碳化硅微粉、白剛玉微粉測量方法介紹
沉降法
沉降法是基于顆粒在液體中的沉降符合斯托克斯定律這一原則，根據顆粒在液體中的*終沉降速度來計算顆粒的粒徑。在實際操作中，由于測試顆粒的*終沉降速度存在較大困難，因此，所有沉降儀都是測量與*終沉降速度相關的其它物理參數，如壓力、密度、重量、濃度或光透過率等，進而求得顆粒的粒徑分布。碳化硅微粉、白剛玉微粉測量方法介紹
沉降法又分為重力沉降和離心沉降兩種，重力沉降的測試范圍通常為0.5 ～ 100μm ，離心沉降可測量的粒徑范圍為0.05 ～ 5μm 。目前，沉降式顆粒儀一般都采用重力沉降和離心沉降相結合的方式.碳化硅微粉、白剛玉微粉測量方法介紹
電阻法
電阻法又稱庫爾特計數法，適合對粒度分布比較窄的顆粒進行測量。它的工作原理相對比較簡單：懸浮在電解液中的顆粒在負壓作用下通過一個由紅寶石制成的小孔，兩個鉑電極組成的電阻式傳感器分別插浸在小孔的兩側，顆粒通過小孔時電極間電阻增大，產生一個電壓脈沖。脈沖的幅值對應于顆粒的體積和相應的粒徑，脈沖的個數對應于顆粒的個數。對所有各個測量到的脈沖計數并確定其幅值，即可得出顆粒的大小，統計出顆粒的分布。電阻法是今為止分辨率*高的粒度分析技術。碳化硅微粉、白剛玉微粉測量方法介紹
激光衍射法
激光衍射法(又稱小角前向散射法)是散射式激光測粒技術中發展*為成熟、應用*為普遍的一種方法，它通過測量顆粒在前向某一小角度范圍內的散射光能分布，利用經典的Mie 散射理論和對大顆粒適用的夫瑯和費理論，求得顆粒粒徑的大小和分布。對于粒徑較大的顆粒，由于在前向小角度范圍內的散射以衍射為主，因此，小角前向散射法又稱為衍射法。碳化硅微粉、白剛玉微粉測量方法介紹
激光衍射法的適用性廣，粒徑測量范圍寬，測量準確，精度高，重復性好，測量速度快，需要提供的物理參數少，可在線測量等，故而得到廣泛應用。
將激光粒度儀(激光衍射法)、庫爾特計數儀(電阻法)和離心粒度分析儀(沉降法)這三種使用*普遍的粒度分析儀的測試結果相比較，對其中位徑D50值的標準方差進行統計分析可得：激光粒度儀的標準方差平均為0.008；庫爾特計數儀的標準方差平均為0.097；離心粒度分析儀的標準方差平均為0.219。由此可見，激光粒度儀的測得的D50值的標準方差*小，測量結果重復性*好，精度高，離心粒度儀的測量重復性及測量精度相對*差。
